KTU Medžiagų mokslo institutas siūlo studentams 19 įvairios tematikos laboratorinių darbų. Mūsų kvalifikuoti specialistai darbus gali pritaikyti įvairiems dėstomų dalykų paskaitų moduliams, atsižvelgiant į studentų specialybę, teorines bei praktines žinias. Galime prieš laboratorinį darbą paskaityti tos tematikos apžvalginę paskaitą.

Siūlomų laboratorinių darbų sąrašas:

1. Vakuuminio įrenginio liekamųjų dujų sudėties nustatymas kvadrupoliniu masių spektrometru.
   

Masių spektroskopija – medžiagos, esančios dujinėje fazėje, elementinės sudėties nustatymo būdas. Pagrindiniai prietaiso veikimo principai, liekamųjų dujų sudėties, esant skirtingos eilės vakuumui, nustatymas.

2. Banknotų apsaugos elementų identifikavimas.
   Šiame darbe studentai supažindinami su pagrindinėmis priemonėmis, apsaugančiomis banknotus nuo padirbinėjimo ir klastojimo.

3. Identifikavimo kortelių apsaugos elementai.
   Pateikiama šiuolaikinių dokumentų autentiškumo įvertinimo metodai, dažniausiai naudojamos asmens tapatybę patvirtinančių dokumentų apsaugos technologijos.

4. Difrakcinių spalvų kitimo matavimas.
   Šiame darbe studentai supažindinami su šviesos difrakcijos reiškiniais, difrakcine gardele. Pagrindinių difrakcinės gardelės parametrų matavimo metodika.

5. Submikroninių elementų kontrolė optiniu analizatoriumi NIKON – S.
   Submikroninių elementų linijinių ir žingsninių matmenų kontrolė praeinančioje šviesoje. Matuojamųjų dydžių diapazonas nuo 0,5 iki 190 µm.

6. Mikroreljefinių struktūrų parametrų tyrimas.
   632,8 nm bangos ilgio lazeriu matuojamas atspindinčios difrakcijos gardelės centrinio ir šoninių difrakcijos maksimumų sąlyginis intensyvumas.

7. Dielektrinių plėvelių parametrų matavimas lazeriniu elipsometru.
   Šis matavimo metodas pagrįstas nuo tiriamojo objekto atsispindėjusios monochromatinės poliarizuotos šviesos ( l=632,8 nm ) poliarizacijos parametrų kitimo analize. Taikomas dielektrinių plėvelių ant puslaidininkinio padėklo neardančiam storio ir lūžio rodiklio matavimui.

8. Paviršiaus struktūros tyrimas skenuojančiuoju elektroniniu mikroskopu JEOL SM-IC 25S.
   Laboratoriniame darbe atliekamas įvairių paviršių – metalų, dielektrikų, puslaidininkių, o taip pat biologinių objektų ir mineralų struktūros ir morfologijos tyrimas.

9. Diodinių struktūrų elektrinių charakteristikų tyrimas kompiuterizuota puslaidininkių parametrų matavimo sistema HP 4062B.
   Puslaidininkinių prietaisų ir sąlyčių voltamperinių charakteristikų tyrimas. Metalo – puslaidininkio sąlyčio parametrų nustatymas.

10. Bandinio paviršiaus tyrimas rentgeno fotoelektronų spektrometru XSAM Kratos Analytical.
    Paviršiaus elementinės sudėties kokybinė ir kiekybinė analizė, cheminių ryšių identifikavimas.

11. Paviršiaus drėkinimo kampo matavimas.
    Vienas iš paprastesnių būdų paviršiaus adhezijai nustatyti yra dejonizuoto A tipo vandens lašo krašto kampo matavimas. Studentai išmoksta nustatyti paviršiaus drėkinimo savybes.

12. Atspindžio ir pralaidumo koeficientų matavimas fotometru  FO – 1.
    Šiame darbe skaidrių ir atspindinčių medžiagų pagrindinės optinės savybės tiriamos fotometru FO – 1. Po darbo atlikimo studentas sugebės atlikti skaidrių plėvelinių medžiagų spektrinę analizę ir išmatuoti nudažytų paviršių atspindžio koeficientus.

13. Infraraudonųjų spindulių ( IR ) spektroskopija.
    Organinių ir polimerinių medžiagų šiuolaikinis analizės metodas. Studentas po darbo atlikimo sugebės savarankiškai atlikti organinio mišinio kokybinę ir pusiaukiekybinę analizę.

14. Spalvų matavimas spektrofotometriniu metodu.
    Studentas supažindinamas su spalvų aprašymo sistema ir pagrindinių fizikinių parametrų pagalba nustato tam tikro bandinio paviršiaus spalvą.

15. Rentgenospektrinė fluorescencinė analizė.
    Tai metodas, kuriuo galima nesuardant bandinio atlikti jo kokybinę ir kiekybinę analizę.

16. Rentgeno struktūrinė analizė.
    Šiuo metodu galima nustatyti neorganinio bandinio cheminę formulę. Studentai susipažįsta su sudėtinga rentgeno aparatūra bei struktūrinės analizės metodu.

17. Atominė absorbcinė spektrinė analizė.
    Atominė absorbcija – medžiagų cheminės sudėties nustatymo metodas. Atlikęs darbą, studentas susipažins su šiuolaikiniu prietaisu, kuriuo jis atliks medžiagos cheminės sudėties analizę.

18. Dielektrinės dangos (SiO₂) formavimas vakuume elektronų spinduliu.
    Suformuojamos įvairaus storio SiO₂ dielektrinės dangos ant Si padėklų, naudojant elektronų patranką.

19. Plonasluoksnių struktūrų topologijos formavimas kontaktinės optinės litografijos būdu.
    Kontaktinės optinės litografijos ( fotolitografijos ) technologinio proceso būdu vienasluoksnės topologijos formavimas ant Si padėklo.

Maloniai kviečiame studentus ir jų dėstytojus bendradarbiauti, gilinti turimas žinias, įgyti praktinių įgūdžių.
Asta Guobienė, tel.: 8 37 313432